Диапазон определяемых элементов

от ₁₁Na до ₉₄Pu

Типы образцов

жидкие, твердые, порошки, фильтры, пленки

Пределы обнаружения, L для лёгкой матрицы
(экспозиция - 100 сек)

Na — 1´10^-1 %, Mg, — 1´10^-2 %, Al — 1´10^-3 %,
Si — 5´10^-4 %, P — 5´10^-4 %, Cd, Pb — 5´10^-4 %
S, Ti, V, Cr — 1´10^-4 %,Co, Ni — 5´10^-5 %,

Диапазон определяемых содержаний
без специальной пробоподготовки
со специальной пробоподготовкой

от 3L до 100%
от 0,005 L

Способ выделения линий спектра

дифракция на кристалле

Время количественного анализа пробы

от 3 минут

Время одного элементоопределения

от 10 до 100 секунд

Рентгенооптическая схема

по Иоганссону

Энергетическое разрешение

9 эВ (Si Ka) 60 эВ ( Fe Ka)

Собственная аппаратурная погрешность

0,5 %

Напряжение на аноде рентгеновской трубки - (max)

50 кВ

Кристалл-анализаторы по Иогану и Иогансону

LiF(200), C, PET, KAP, ML (44E)

Пробозагрузочное устройство

Автоматическое на 16 образцов
14 диаметром до 20 мм и 2 образца
с вращением диаметром до 40 мм

Радиационная безопасность

освобождён от регламентации по радиационному фактору

Габаритные размеры и масса:
спектрометрический
блок высоковольтного источника питания
блок вакуумного насоса

550´450´450 мм; 70 кг
240´440´450 мм; 30 кг
130´200´320 мм; 15 кг

Питание
Потребляемая мощность от сети 220 B

~220 В, 50 Гц, ~ 380 В
850 Вт

Интерфейс с ЭВМ

RS-232